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Microscope électronique de balayage par émission de champ KYKY / instruments de microscopie électronique de balayage

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Microscope électronique de balayage par émission de champ KYKY / instruments de microscopie électronique de balayage

Image Grand : Microscope électronique de balayage par émission de champ KYKY / instruments de microscopie électronique de balayage

Détails sur le produit:

Lieu d'origine:	Chine
Nom de marque:	KYKY
Certification:	CE
Numéro de modèle:	EM8010

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Description de produit détaillée

Résolution:

SE 1,5 nm à 15 kV ESB 3 nm à 30 kV

Grossissement:

1x-600000x

Tension d'accélération:

0,2kV-30kV

Diamètre maximum de l'échantillon:

175mm

Mettre en évidence:

appareil de microscopie électronique à balayage

machine à SEM

Le microscope électronique à balayage à émission de champ de la série EM80 se positionne comme un microscope électronique à balayage à émission de champ thermique Schottky économique avec une extensibilité riche et des performances élevées, qui est largement utilisé dans divers domaines tels que la science des matériaux, la biologie, la médecine, la chimie et les sciences de l'environnement.

Avantages :

◆ Canon à émission de champ Schottky

◆ Système de lentilles hautes performances à plusieurs étages

◆ Stabilité des feux de route

◆ Chambre d'échantillon extra-large personnalisable

◆ Opération simple

◆ Extensibilité riche et performances élevées

Caractéristiques:

Article		EM8010
Résolution		SE 1,5 nm à 15 kV ESB 3 nm à 30 kV

Grossissement		1x-600000x
Pistolet à électrons		Pistolet à émission de champ Schottky
Tension accélératrice		0,2kV-30kV
Système de vide		2 pompes ioniques, 1 pompe turbo moléculaire à lévitation magnétique, 1 pompe sèche
Ouverture de l'objectif		Système de vide extérieur réglable à ouverture en molybdène
Stade du spécimen		Étape cinq axes
Voyage	X(Automatique)	0 ~ 80mm
Gamme	Y (Automatique)	0 ~ 50mm
	Z(Manuel)	0 ~ 30mm
	R(Manuel)	360°
	T(Manuel)	-5° ~ 70°
Diamètre maximum de l'échantillon		175mm
Détecteur		Détecteur d'électrons secondaires sous vide poussé Détecteur CCD infrarouge Détecteur de rétrodiffusion à quatre quadrants ※ Navigation optique ※

Modification		Mise à niveau de l'étape ; EBL ; STM ; AFM ; Étape de chauffage ; Étape cryogénique ; Étape de traction ; Manipulateur micro-nano ; SEM+Machine de revêtement ; SEM+Laser
Accessoires		EDS/EBSD/STEM/CL/étape de chauffage/étape de refroidissement/étape de traction, etc.

Produit Tag:

Personne à contacter: Mr. Shawn Liu

Téléphone: 86-10-82548271

Télécopieur: 86-010-62564613

Autres Produits

Microscope électronique de balayage à haute résolution / instrumentation Sem Courant de faisceau stable

Résolutions: 0,9 nm à 30 KV (SE) 3 nm à 1 kV (SE)

Grossissement: 1X ~ 3000000X

Stade du spécimen: Scène motorisée eucentrique à cinq axes

Diamètre maximum de l'échantillon: 320mm

Microscope électronique à balayage par filament de tungstène / Microscope électronique Sem EM69 Std

Résolution: SE : 3 nm à 30 KV, 8 nm à 3 kV ; ESB : 4 nm à 30 KV.

Grossissement: 1x-450000x

Stade du spécimen: Étape des cinq axes

Canon électronique: Filament Pré-aligné de tungstène

Microscope électronique de balayage par émission de champ KYKY

agrandissement: 1x-3000000x

Résolution: 0,8 nm à 15 kV, 1,5 nm à 1 kV

Tension d'accélération: 0,2kV-30kV

Spécimen maximum: 320mm

Microscope électronique à balayage de petite taille, appareil de pulvérisation ionique

Application: Spécimen préfabriqué pour le balayage électronique

Cible: Au, Ag, Cu, Al

Gaz moyen: air ou argon, avec entrée d'argon et microrégulateur de gonflage d'air

Taux de dépôt: 2-10 nm/min